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檢測(cè)半導(dǎo)體晶片或器件的儀器(包括測(cè)試或檢驗(yàn)半導(dǎo)體晶片或元器件用的裝置)  9030820000

申報(bào)實(shí)例匯總

商品編碼 商品名稱
9030820000 探針環(huán)
9030820000 探針測(cè)試臺(tái)
9030820000 探針測(cè)試儀及其配套軟件
9030820000 探針測(cè)試儀
9030820000 探針機(jī)/TSK牌
9030820000 探針機(jī)
9030820000 探針臺(tái)設(shè)備
9030820000 探針臺(tái)
9030820000 振動(dòng)測(cè)試機(jī)
9030820000 按鈕開(kāi)關(guān)壽命測(cè)驗(yàn)機(jī)
9030820000 指示燈/按鈕系列通斷負(fù)載壽命校驗(yàn)臺(tái)
9030820000 抗靜電測(cè)試機(jī)
9030820000 抗干擾氧化鋅避雷器特性測(cè)試儀
9030820000 揚(yáng)聲器紙盆FO測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 揚(yáng)聲器件測(cè)試儀
9030820000 揚(yáng)聲器FO諧振頻率測(cè)試儀
9030820000 手持模擬集成電路測(cè)試儀
9030820000 手持?jǐn)?shù)字集成電路測(cè)試儀
9030820000 手動(dòng)探針臺(tái)
9030820000 手動(dòng)半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 戶外測(cè)試儀(舊)
9030820000 感應(yīng)器測(cè)試治具
9030820000 快速電學(xué)參數(shù)測(cè)試機(jī)(租憑費(fèi))
9030820000 快速電學(xué)參數(shù)測(cè)試機(jī)
9030820000 快速半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)（維修費(fèi)）
9030820000 快速半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試機(jī)
9030820000 微波探針測(cè)試臺(tái)
9030820000 微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 微機(jī)繼電保護(hù)測(cè)試儀
9030820000 微機(jī)電力變壓器故障錄波分析裝置
9030820000 微機(jī)發(fā)電機(jī)變壓器組故障濾波分析裝置
9030820000 彩色顯像管管座測(cè)試儀
9030820000 引線絕緣測(cè)試儀（舊）
9030820000 開(kāi)發(fā)測(cè)試板
9030820000 開(kāi)發(fā)工具
9030820000 開(kāi)關(guān)壽命試驗(yàn)機(jī)
9030820000 底板線路測(cè)試儀
9030820000 干式變壓器專用控制儀表
9030820000 常溫檢查裝置
9030820000 工位測(cè)試夾具/測(cè)試手機(jī)主板用,用于采集數(shù)據(jù)并進(jìn)行比對(duì)
9030820000 工位測(cè)試夾具
9030820000 少子壽命測(cè)試儀/SEMILAB
9030820000 少子壽命測(cè)試儀
9030820000 少子壽命儀
9030820000 小型繼電器老化臺(tái)
9030820000 小型繼電器校驗(yàn)臺(tái)
9030820000 射頻IC測(cè)試機(jī)
9030820000 密度繼電器校驗(yàn)儀
9030820000 寬頻蜂鳴器測(cè)試儀
9030820000 家電門(mén)開(kāi)關(guān)測(cè)試機(jī)
9030820000 定位器
9030820000 安捷倫集電測(cè)試機(jī)
9030820000 安捷倫集電測(cè)試儀-1
9030820000 安捷倫集電測(cè)試儀
9030820000 安捷倫測(cè)試分選臺(tái)-1
9030820000 存儲(chǔ)器測(cè)試設(shè)備(舊,2004,三成新)
9030820000 存儲(chǔ)器測(cè)試設(shè)備(舊,1997,1998,一成新)
9030820000 失效檢測(cè)機(jī)
9030820000 太陽(yáng)能電池組件戶外測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 太陽(yáng)能電池片測(cè)試機(jī)(舊)
9030820000 太陽(yáng)能電池片檢測(cè)設(shè)備
9030820000 太陽(yáng)能電池片效率測(cè)試儀
9030820000 太陽(yáng)能電池板電容和阻抗檢測(cè)裝置 TESTER
9030820000 太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試儀
9030820000 太陽(yáng)能電池IV曲線測(cè)試系統(tǒng)設(shè)備
9030820000 太陽(yáng)能電池 I-V 測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 太陽(yáng)能模擬器
9030820000 太陽(yáng)能板半自動(dòng)點(diǎn)測(cè)機(jī)(舊)
9030820000 太陽(yáng)電池組件測(cè)試儀
9030820000 太陽(yáng)電池板測(cè)試儀
9030820000 大規(guī)?；旌闲盘?hào)集成電路測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 大功率型LED老化板
9030820000 多通道電爆元件測(cè)試儀
9030820000 多溫源熱電偶自動(dòng)檢定系統(tǒng)
9030820000 多樣式包裝整流器測(cè)試機(jī)
9030820000 多晶硅電池片轉(zhuǎn)換效率檢測(cè)與分
9030820000 多功能集成電路自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 多功能集成電路及電路板故障診斷儀
9030820000 多功能繼電保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 多功能電路板故障診斷工作站
9030820000 多功能測(cè)試機(jī)
9030820000 多功能汽車電路檢測(cè)儀
9030820000 多功能數(shù)字集成電路測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 外觀分選機(jī)
9030820000 外延電阻率測(cè)試儀
9030820000 外延片測(cè)試儀
9030820000 復(fù)合型三電極測(cè)量系統(tǒng)
9030820000 聲音分析器
9030820000 聲表面波測(cè)試機(jī)
9030820000 聲級(jí)校正器
9030820000 塑殼斷路器瞬時(shí)特性校驗(yàn)臺(tái)
9030820000 塑殼斷路器四工位延時(shí)特性校驗(yàn)臺(tái)
9030820000 塑殼斷路器二工位延時(shí)特性校驗(yàn)臺(tái)
9030820000 基板檢查裝置
9030820000 在線程序輸入設(shè)備夾具
9030820000 在線測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 在線測(cè)試治具
9030820000 在線測(cè)試儀
9030820000 圖示儀(不帶記錄裝置)
9030820000 圖示儀
9030820000 固態(tài)繼電器試驗(yàn)監(jiān)測(cè)臺(tái)
9030820000 四點(diǎn)探針測(cè)試儀
9030820000 四探針電阻率測(cè)試儀
9030820000 四探針測(cè)試儀
9030820000 四探針測(cè)電阻面掃描儀
9030820000 器件抗靜電/閂鎖能力測(cè)試儀ORYX
9030820000 吸塵器電風(fēng)機(jī)老化檢測(cè)線
9030820000 吸塵器壽命測(cè)驗(yàn)機(jī)
9030820000 后半一貫生產(chǎn)機(jī)
9030820000 臺(tái)階測(cè)試儀
9030820000 可調(diào)多功能型LED老化板
9030820000 可控硅綜合參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀
9030820000 變壓器自動(dòng)測(cè)試儀
9030820000 變壓器綜合測(cè)試臺(tái)
9030820000 變壓器綜合測(cè)試儀
9030820000 變壓器特性自動(dòng)測(cè)試儀
9030820000 變壓器測(cè)試器
9030820000 變壓器測(cè)試儀器
9030820000 變壓器有載調(diào)壓開(kāi)關(guān)測(cè)試儀
9030820000 變壓器有載開(kāi)關(guān)測(cè)試儀
9030820000 變壓器損耗測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 變壓器損耗參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 變壓器變比自動(dòng)測(cè)試儀
9030820000 變壓器變比組別測(cè)試儀
9030820000 變壓器參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 變壓器儀表
9030820000 變壓器專用測(cè)量?jī)x
9030820000 發(fā)光二極管芯片點(diǎn)測(cè)機(jī)
9030820000 發(fā)光二極管色度測(cè)試儀器
9030820000 發(fā)光二極管自動(dòng)測(cè)試機(jī)
9030820000 發(fā)光二極管用測(cè)試機(jī)（舊）
9030820000 發(fā)光二極管用測(cè)試機(jī)
9030820000 發(fā)光二極管用測(cè)試儀（舊）
9030820000 發(fā)光二極管用測(cè)試儀
9030820000 發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)(舊)
9030820000 發(fā)光二極管測(cè)試機(jī)
9030820000 發(fā)光二極管測(cè)試分類機(jī)(舊)
9030820000 發(fā)光二極管光電測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 發(fā)光二極體電性測(cè)試機(jī)
9030820000 反方向反應(yīng)時(shí)間測(cè)試機(jī)
9030820000 反射率測(cè)試儀(舊)
9030820000 雙向晶閘管參數(shù)測(cè)量試儀
9030820000 參數(shù)測(cè)試儀(舊)
9030820000 印刷電路板測(cè)試機(jī)
9030820000 單顆測(cè)試儀
9030820000 單項(xiàng)繼電保護(hù)測(cè)試儀
9030820000 單結(jié)構(gòu)最大需量表
9030820000 單相繼電保護(hù)測(cè)試儀
9030820000 單晶LED測(cè)試機(jī)
9030820000 單體太陽(yáng)電池測(cè)試儀
9030820000 半自動(dòng)晶粒點(diǎn)測(cè)機(jī)(舊)
9030820000 半自動(dòng)晶片測(cè)試臺(tái)
9030820000 半自動(dòng)探測(cè)儀
9030820000 半導(dǎo)測(cè)試裝置
9030820000 半導(dǎo)體靜電抗擾度測(cè)試器
9030820000 半導(dǎo)體霍爾效應(yīng)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體集成電路芯片測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體集成電路測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體閘流管測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體錫膏檢測(cè)儀
9030820000 半導(dǎo)體金線焊接測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體芯片測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體芯片測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體芯片在線測(cè)試儀器
9030820000 半導(dǎo)體芯片和集成電路可焊性(焊接能力)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體自動(dòng)檢測(cè)機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體自動(dòng)化測(cè)試分選機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體老化板測(cè)試機(jī)（舊）
9030820000 半導(dǎo)體老化板測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體綜合特性測(cè)試機(jī)/舊
9030820000 半導(dǎo)體綜合特性測(cè)試機(jī)(舊)
9030820000 半導(dǎo)體綜合特性測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體硅片測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體硅材料分選儀
9030820000 半導(dǎo)體電路測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體電特性測(cè)試機(jī)(舊)
9030820000 半導(dǎo)體環(huán)境光與接近光傳感器測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體特性測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng)（帶記錄裝置）
9030820000 半導(dǎo)體熱特性測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)量設(shè)備
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試治具/NVIDIA牌
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試檢驗(yàn)用設(shè)備
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試分選機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試儀(舊)
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試儀(含附件)
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試儀 工業(yè)檢測(cè)半導(dǎo)體晶片用
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試主機(jī)(舊)
9030820000 半導(dǎo)體測(cè)試主機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體波形測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體檢測(cè)裝置
9030820000 半導(dǎo)體檢測(cè)盒
9030820000 半導(dǎo)體檢測(cè)器
9030820000 半導(dǎo)體檢測(cè)儀:
9030820000 半導(dǎo)體檢測(cè)儀,品牌ASM.
9030820000 半導(dǎo)體材料測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體機(jī)柜測(cè)試機(jī)(舊)
9030820000 半導(dǎo)體晶片自動(dòng)測(cè)試儀（舊）
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試器/牌:XCT/晶片運(yùn)行時(shí)熱電能的檢測(cè)
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試器/牌:UNITEST
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試臺(tái)
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試儀/用途:測(cè)試液晶驅(qū)動(dòng)IC的各項(xiàng)技術(shù)參數(shù)
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試儀/變溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試儀(舊)
9030820000 半導(dǎo)體晶片測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體晶片檢測(cè)裝置
9030820000 半導(dǎo)體晶片檢測(cè)用探頭裝置
9030820000 半導(dǎo)體晶片檢測(cè)儀/工業(yè)用/牌NADA/檢測(cè)對(duì)象:半導(dǎo)體晶片
9030820000 半導(dǎo)體晶片檢測(cè)儀
9030820000 半導(dǎo)體晶片推力拉力測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體晶片四探針電阻率測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體晶片參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體晶塊測(cè)試儀(舊)
9030820000 半導(dǎo)體晶圓測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體晶體測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體晶體功能測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體放電管測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體振蕩器測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體應(yīng)變計(jì)
9030820000 半導(dǎo)體封裝檢測(cè)機(jī)器組件
9030820000 半導(dǎo)體太陽(yáng)能電池用加速紫外老化測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體型號(hào)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體在線測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體器件高精度電學(xué)參數(shù)測(cè)量系統(tǒng);
9030820000 半導(dǎo)體器件雪崩測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體器件試驗(yàn)設(shè)備
9030820000 半導(dǎo)體器件直流電參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體器件直流測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體器件電氣參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體器件電感負(fù)載量測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體器件電感負(fù)載測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體器件用測(cè)試機(jī)修理費(fèi)
9030820000 半導(dǎo)體器件用測(cè)試機(jī)(舊)
9030820000 半導(dǎo)體器件用測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體器件熱電阻測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體器件測(cè)試設(shè)備
9030820000 半導(dǎo)體器件測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體器件測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體器件檢驗(yàn)儀
9030820000 半導(dǎo)體器件檢測(cè)儀
9030820000 半導(dǎo)體器件參數(shù)測(cè)量?jī)x器
9030820000 半導(dǎo)體器件分析儀（半導(dǎo)體專用，電參量測(cè)量）
9030820000 半導(dǎo)體器件分析儀/帶記錄裝置
9030820000 半導(dǎo)體器件與電路測(cè)試儀器
9030820000 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀（舊）/殘值率10%,原價(jià)HK$56972.79
9030820000 半導(dǎo)體參數(shù)分析儀;分析器件半導(dǎo)體特性;Agilent;帶記錄裝置
9030820000 半導(dǎo)體功能測(cè)試系統(tǒng)(舊)
9030820000 半導(dǎo)體制冷器檢測(cè)儀
9030820000 半導(dǎo)體分立器件綜合測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀,品牌:QTEC
9030820000 半導(dǎo)體分析儀
9030820000 半導(dǎo)體全功能抗擾度測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體元器件測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體元器件測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體元件在線測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體儀器信號(hào)測(cè)試設(shè)備
9030820000 半導(dǎo)體二極管特性測(cè)試儀
9030820000 半導(dǎo)體二極管測(cè)試機(jī) DIODE TESTER
9030820000 半導(dǎo)體二極管測(cè)試機(jī)
9030820000 半導(dǎo)體中測(cè)儀WAFER PROBING MACHINE UF200A
9030820000 半導(dǎo)體/電子芯片三維在線檢測(cè)系統(tǒng)
9030820000 半導(dǎo)體
9030820000 加熱器集成電路最終功能測(cè)試儀
9030820000 功能測(cè)試機(jī)臺(tái)
9030820000 功能測(cè)試機(jī)/測(cè)試數(shù)字機(jī)頂盒
9030820000 分選機(jī)(舊)
9030820000 分選機(jī)
9030820000 分類機(jī)(舊)
9030820000 分立器件測(cè)試機(jī)
9030820000 分立元件測(cè)試器
9030820000 出荷檢查機(jī)
9030820000 內(nèi)存芯片測(cè)試儀
9030820000 內(nèi)存條測(cè)試機(jī)
9030820000 全自動(dòng)集成電路測(cè)試機(jī)
9030820000 全自動(dòng)轉(zhuǎn)塔式測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 全自動(dòng)轉(zhuǎn)塔式LED分選系統(tǒng)
9030820000 全自動(dòng)測(cè)試機(jī)
9030820000 全自動(dòng)測(cè)試包裝機(jī)
9030820000 全自動(dòng)模塊檢測(cè)機(jī)
9030820000 全自動(dòng)探針測(cè)試臺(tái)
9030820000 全自動(dòng)探針儀
9030820000 全自動(dòng)抗靜電抗栓鎖測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 全自動(dòng)太陽(yáng)能電池片測(cè)試設(shè)備
9030820000 全自動(dòng)ICT測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 全光譜太陽(yáng)模擬器
9030820000 光耦合生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 光耦合器用測(cè)試儀
9030820000 光耦合器測(cè)試儀
9030820000 光電轉(zhuǎn)化效率測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 光電接收器電路測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 光電元件測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 光柵 用于彎管機(jī)上 SCHWARZE牌
9030820000 光柱發(fā)光二極管雙重顯示交流儀表
9030820000 光敏管測(cè)試機(jī)
9030820000 光敏半導(dǎo)體檢測(cè)儀
9030820000 光學(xué)檢漏測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 光學(xué)檢測(cè)儀
9030820000 光伏組件IV測(cè)試儀[舊]
9030820000 光伏晶圓測(cè)試機(jī)
9030820000 光伏發(fā)電系統(tǒng)工程多功能測(cè)試儀
9030820000 充電IC測(cè)試治具
9030820000 元器件耐壓指標(biāo)把關(guān)測(cè)試儀
9030820000 元器件測(cè)試儀/檢測(cè)元器件用
9030820000 元器件在線測(cè)試儀
9030820000 元器件參數(shù)測(cè)量?jī)x器
9030820000 元器件參數(shù)測(cè)試儀
9030820000 元件參數(shù)測(cè)量?jī)x器
9030820000 保險(xiǎn)絲測(cè)試儀
9030820000 便攜邏輯檢測(cè)儀/檢測(cè)元器件用
9030820000 便攜式邏輯檢測(cè)儀/檢測(cè)元器件用
9030820000 便攜式邏輯分析儀/檢測(cè)元器件用
9030820000 便攜式繼電保護(hù)測(cè)試儀
9030820000 低阻值歐姆表變壓器測(cè)試設(shè)備
9030820000 低溫真空探針臺(tái)/利用低溫真空環(huán)
9030820000 低泄漏開(kāi)關(guān);測(cè)量半導(dǎo)體晶圓上必要參數(shù);對(duì)半導(dǎo)體器件進(jìn)行測(cè)試;AGILENT
9030820000 低壓力延長(zhǎng)測(cè)試儀
9030820000 傳感器芯片測(cè)試機(jī)
9030820000 仿真器
9030820000 產(chǎn)品性能測(cè)試儀表
9030820000 交直流霍爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng)
9030820000 交直流絕緣耐壓測(cè)試儀
9030820000 交流電測(cè)試機(jī)
9030820000 亞毫米波測(cè)試儀/帶記錄裝置
9030820000 互感器綜合測(cè)試儀
9030820000 互感器多功能綜合測(cè)試儀
9030820000 二極管順向電壓差值測(cè)試機(jī)
9030820000 二極管陣列檢測(cè)器
9030820000 二極管電性能檢查裝置
9030820000 二極管用超聲波測(cè)試儀
9030820000 二極管特性檢查機(jī)
9030820000 二極管特性曲線測(cè)試機(jī)
9030820000 二極管測(cè)試箱
9030820000 二極管測(cè)試機(jī)
9030820000 二極管測(cè)試印字包裝一體機(jī)
9030820000 二極管測(cè)試分類機(jī)
9030820000 二極管測(cè)試儀器 品牌:POWORLD 用于二極管生產(chǎn)廠家檢測(cè)
9030820000 二極管測(cè)試儀/PHILIPS牌/用于測(cè)試二極管的參數(shù)
9030820000 二極管測(cè)試儀
9030820000 二極管測(cè)試一貫機(jī)
9030820000 二極管導(dǎo)通測(cè)試儀
9030820000 二極管反向沖擊測(cè)試機(jī)
9030820000 主板芯片用測(cè)試板
9030820000 中間繼電器校驗(yàn)臺(tái)
9030820000 中間測(cè)試機(jī)
9030820000 中間測(cè)試儀
9030820000 中繼測(cè)試儀
9030820000 中測(cè)測(cè)試儀
9030820000 中檢機(jī)(舊)
9030820000 中檢機(jī)
9030820000 三維集成器件異質(zhì)晶圓探針系統(tǒng)
9030820000 三相繼電保護(hù)測(cè)試儀
9030820000 三極管電性能檢測(cè)儀
9030820000 三極管測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 三極管測(cè)試機(jī)
9030820000 萬(wàn)能轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)測(cè)試臺(tái)
9030820000 X線檢查裝置
9030820000 X射線芯片檢測(cè)儀
9030820000 X射線檢測(cè)設(shè)備
9030820000 W2200B溫度測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 VTT測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 VLSI集成電路測(cè)試儀
9030820000 VLSI芯片數(shù)字信號(hào)測(cè)試儀
9030820000 VERIGY集成電路測(cè)試系統(tǒng)SOC
9030820000 U盤(pán)測(cè)試機(jī) TESTER
9030820000 UV LED測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 usb控制芯片驗(yàn)證測(cè)試套裝
9030820000 TSV工藝晶圓探針系統(tǒng)
9030820000 TSP測(cè)試儀
9030820000 TSE測(cè)試平臺(tái)
9030820000 TRR測(cè)試機(jī)
9030820000 TRR壓二極管測(cè)試機(jī)
9030820000 TESEC全自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 SunsVoc測(cè)試儀/舊
9030820000 SSD測(cè)試機(jī)
9030820000 SMD石英晶體振蕩器自動(dòng)測(cè)試機(jī)
9030820000 Sherrescan測(cè)試儀/舊
9030820000 SF6氣體密度繼電器校驗(yàn)儀
9030820000 SEMILAB方塊電阻測(cè)試儀
9030820000 SEMILAB單點(diǎn)少子壽命測(cè)試儀
9030820000 SD卡測(cè)試儀
9030820000 SBTEK測(cè)試平臺(tái)
9030820000 QuickTest牌半導(dǎo)體器件直流測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 PXI集成電路測(cè)試儀
9030820000 POP測(cè)試治具
9030820000 PCB電路板測(cè)試儀
9030820000 PCB板測(cè)試機(jī)
9030820000 PCB板測(cè)試儀
9030820000 P-8探針臺(tái)
9030820000 OneTouch ES濃縮系統(tǒng)（舊）
9030820000 OCXO頻率測(cè)試系統(tǒng)（舊）
9030820000 OCXO老化測(cè)試系統(tǒng)（舊）
9030820000 OCXO終檢測(cè)試系統(tǒng)（舊）
9030820000 OCXO波形測(cè)試系統(tǒng)（舊）
9030820000 OCXO數(shù)模轉(zhuǎn)換測(cè)試臺(tái)（舊）
9030820000 OCXO拐點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)（舊）
9030820000 OCXO中間測(cè)試系統(tǒng)（舊）
9030820000 OCXC拐點(diǎn)測(cè)試系統(tǒng)(舊)
9030820000 NEC牌集成電路性能測(cè)試儀,用于調(diào)試芯片
9030820000 Micropross SIM卡模擬器
9030820000 M/A-COM 功能測(cè)試儀（舊）
9030820000 LED高速視角測(cè)試儀
9030820000 LED高壓?jiǎn)尉щ娦詼y(cè)試機(jī)
9030820000 LED量測(cè)系統(tǒng)
9030820000 LED量測(cè)儀(舊)修理費(fèi)
9030820000 LED量測(cè)儀(舊)
9030820000 LED量測(cè)儀
9030820000 LED芯片老化測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 LED芯片測(cè)試機(jī)
9030820000 LED色度測(cè)試儀器
9030820000 LED自動(dòng)測(cè)試分類機(jī)
9030820000 LED老化測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 LED燈檢查器
9030820000 LED測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 LED測(cè)試盒
9030820000 LED測(cè)試機(jī)
9030820000 LED晶粒檢測(cè)機(jī)
9030820000 LED晶粒分類挑揀機(jī)
9030820000 LED晶圓級(jí)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 LED晶圓測(cè)試儀
9030820000 LED可靠性測(cè)試儀
9030820000 LED發(fā)光測(cè)試機(jī)
9030820000 LED單站多晶測(cè)試機(jī)
9030820000 LED半導(dǎo)體功能測(cè)試自動(dòng)化設(shè)備
9030820000 LED全自動(dòng)高速測(cè)試機(jī)
9030820000 LED全自動(dòng)測(cè)試機(jī)
9030820000 LED全光通量自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 LED光電特性量測(cè)系統(tǒng)(三晶)
9030820000 LED光電性測(cè)試機(jī)
9030820000 LD測(cè)試機(jī)
9030820000 LCR表
9030820000 LCR元器件測(cè)試儀
9030820000 LCD測(cè)試儀
9030820000 LAUTERBACH代碼分析儀
9030820000 LAMP LED自動(dòng)測(cè)試分類機(jī)
9030820000 KOHOKU牌檢測(cè)電容器導(dǎo)針焊接波形用波形判定器
9030820000 KOHOKU牌檢測(cè)電容器上導(dǎo)針焊接波形用波型判定器
9030820000 JTAG內(nèi)存測(cè)試儀
9030820000 IV測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 ITC牌半導(dǎo)體器件電感負(fù)載測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 IS測(cè)試儀（舊）/修理費(fèi)
9030820000 IS測(cè)試儀（舊）
9030820000 IS測(cè)試儀
9030820000 ISMECA半導(dǎo)體測(cè)試儀
9030820000 IC測(cè)試設(shè)備
9030820000 IC測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 IC測(cè)試機(jī)/26模擬通道
9030820000 IC測(cè)試機(jī)(舊)
9030820000 IC測(cè)試機(jī)
9030820000 IC測(cè)試儀用治具
9030820000 IC測(cè)試儀IC TESTER,測(cè)試TPL系列數(shù)字IC,GW INSTEK牌.
9030820000 IC測(cè)試儀
9030820000 IC晶片測(cè)試工具
9030820000 IC參數(shù)測(cè)試儀(舊)
9030820000 IC卡測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 ICT針床
9030820000 ICT電路板自動(dòng)測(cè)試機(jī)
9030820000 ICT測(cè)試機(jī)
9030820000 ICT測(cè)試夾具
9030820000 I.C測(cè)試器
9030820000 HP集成電路中測(cè)測(cè)試儀器
9030820000 ESD電測(cè)系統(tǒng)
9030820000 EL測(cè)試系統(tǒng)[磊晶片電致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)]
9030820000 EG硅片自動(dòng)探針臺(tái)（舊）
9030820000 Eagle半導(dǎo)體晶片測(cè)試儀器（舊）
9030820000 DTS-1000測(cè)試裝置
9030820000 DTS-1000半導(dǎo)體元器件測(cè)試機(jī)
9030820000 d33測(cè)量?jī)x
9030820000 CREDENCE線性模擬器件測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 CPU仿真器/AMERICAN ARIUM等
9030820000 Correscan測(cè)試儀/舊
9030820000 CF卡測(cè)試治具
9030820000 CF卡測(cè)試儀(舊)
9030820000 CASCADE牌探針臺(tái)
9030820000 BELVAL太陽(yáng)能測(cè)試儀
9030820000 ATE測(cè)試機(jī)
9030820000 ASL線型混合信號(hào)測(cè)試機(jī)/ASL1000
9030820000 ASL線型混合信號(hào)測(cè)試機(jī)(舊)/ASL-1000
9030820000 ASL線型混合信號(hào)測(cè)試機(jī)
9030820000 ALS線型混合信號(hào)測(cè)試機(jī)
9030820000 ACS-11測(cè)試臺(tái)
9030820000 AAA級(jí)瞬態(tài)太陽(yáng)模擬器測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 93K 集成電路測(cè)試系統(tǒng)
9030820000 68通道便攜式邏輯分析儀
9030820000 55納米芯片測(cè)試探針臺(tái)
9030820000 516測(cè)試分選機(jī)/TRIPOD牌
9030820000 350D檢測(cè)設(shè)備
9030820000 250B校準(zhǔn)套件
9030820000 12寸自動(dòng)晶圓可靠性測(cè)試儀
9030820000 (舊)缺陷測(cè)試設(shè)備
9030820000 (舊)晶圓測(cè)試機(jī)